如何判斷掃描電鏡圖像中的條紋是否為干擾？
判斷掃描電鏡（SEM）圖像中的條紋是否為干擾（artifact），可以從以下幾個方面著手分析：
MORE INFO → 行業動態 2025-04-30
判斷掃描電鏡（SEM）圖像中的條紋是否為干擾（artifact），可以從以下幾個方面著手分析：
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掃描電鏡（SEM）中的能譜分析（EDS）中出現假峰（artifact peaks）或偽峰（spurious peaks），可能由以下幾類原因引起：
MORE INFO → 行業動態 2025-04-30
在掃描電子顯微鏡（SEM）中，非導電樣品（如聚合物、陶瓷、生物材料等）容易出現充電效應，導致圖像發亮、偏移、拉伸、失真甚至無法成像。
MORE INFO → 行業動態 2025-04-29
判斷掃描電鏡（SEM）是否需要重新調焦，可以通過以下幾個方法和信號來判斷：
MORE INFO → 行業動態 2025-04-29
在掃描電鏡（SEM）中，調節樣品臺傾斜角度的作用主要有以下幾點：
MORE INFO → 行業動態 2025-04-28
在掃描電鏡（SEM）成像時，如果圖像對比度太低，可以通過以下方法調整改善：
MORE INFO → 行業動態 2025-04-28
掃描電鏡（SEM）使用時如果電源不穩定，會對成像產生一系列直接且顯著的負面影響，主要體現在以下幾個方面：
MORE INFO → 行業動態 2025-04-27
掃描電鏡（SEM）圖像出現亮度不均，一般說明系統內部或操作設置上出現了問題。
MORE INFO → 行業動態 2025-04-27