掃描電鏡成像時如何減少漂移？

在掃描電鏡（SEM）成像過程中，漂移會導致圖像模糊、細節丟失，特別是在高倍率和長曝光時間下尤為明顯。

MORE INFO → 行業動態 2025-03-18

掃描電鏡能否直接觀察濕樣品？

普通的掃描電子顯微鏡（SEM）不能直接觀察濕樣品，因為 SEM 需要高真空環境來防止電子束散射，而濕樣品中的水分在真空中會迅速蒸發，導致樣品形態變化甚至損壞。

MORE INFO → 行業動態 2025-03-18

如何處理樣品以避免在掃描電鏡下發生充電偽影？

在掃描電鏡（SEM）成像過程中，非導電樣品容易產生充電效應，導致圖像模糊、亮度不均、漂移或偽影。

MORE INFO → 行業動態 2025-03-17

如何優化掃描電鏡的曝光時間以提高成像質量？

優化掃描電鏡（SEM）的曝光時間需要在信噪比（SNR）、分辨率、樣品損傷和成像時間之間取得平衡。

MORE INFO → 行業動態 2025-03-17

如何校正掃描電鏡的光束偏移？

掃描電鏡（SEM）光束偏移會導致成像不清晰、分辨率下降、甚至樣品漂移。

MORE INFO → 行業動態 2025-03-14

掃描電鏡對磁性材料成像有影響嗎？

掃描電鏡在對磁性材料（如鐵、鈷、鎳及其合金）成像時，可能會受到磁場干擾，導致成像質量下降。

MORE INFO → 行業動態 2025-03-14

掃描電鏡樣品可以重復使用嗎？

掃描電鏡（SEM）樣品是否可以重復使用，取決于以下幾個因素：

MORE INFO → 行業動態 2025-03-13

如何防止樣品在SEM成像過程中受到污染？

在掃描電子顯微鏡（SEM）成像過程中，樣品可能會受到污染，導致圖像質量下降或影響分析結果。

MORE INFO → 行業動態 2025-03-13