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樣品表面污染會顯著影響掃描電鏡（SEM）成像質量，具體表現和影響如下：

1. 圖像分辨率下降

污染層可能遮蓋住樣品的真實微觀結構，使電子束無法準確聚焦在目標區域，從而導致圖像模糊、細節丟失。

2. 偽影與噪聲增加

污染物在電子束轟擊下可能產生次級電子、X 射線或帶電荷積累，導致圖像中出現非真實結構的明暗條紋、亮斑或陰影。

3. 充電效應加重

污染層通常為非導電材料，容易引起電子束照射區域的電荷積累，造成：

圖像漂移

像素扭曲

明暗不均

4. 成分分析失真

在進行能譜（EDS）分析時，污染層會引入額外元素信號，干擾對樣品真實成分的判斷。

5. 電子束誘導污染加劇

污染層可能在高劑量電子束照射下發生聚合或熱分解，形成更厚的碳沉積物或其他反應產物，進一步惡化成像質量。

應對措施建議：

使用等離子體或紫外清洗樣品，去除表面有機污染。

使用高真空或低劑量條件，避免污染擴散。

保持手套、鑷子和樣品盒潔凈，避免人為污染。

若已成像污染嚴重，可更換觀測區域或重新制備樣品。